Кварцевый контроль позволяет иметь точную информацию о толщине пленки в процессе нанесения покрытий в вакууме.

Для измерения используется эффект изменения резонансной частоты кварцевого кристалла при изменении его массы. Масса кристалла увеличивается за счет напыления материала на его поверхность. 

Прибор поставляется в настольном варианте и для монтажа в стойку 19" формат 2U и 3U.