|
Кварцевый контроль позволяет иметь точную информацию о толщине пленки в процессе нанесения покрытий в вакууме. Для измерения используется эффект изменения резонансной частоты кварцевого кристалла при изменении его массы. Масса кристалла увеличивается за счет напыления материала на его поверхность. 
|
|
Подробнее...
|
|
Назначение: Контроллер позволяет формировать различные траектории электронного луча при движении по мишени (таблетке). Это позволяет более равномерно и полно вырабатывать материал, а также автоматизировать процесс сканирования, исключив работу оператора.  |
|
Подробнее...
|
Назначение:
Водоохлаждаемый держатель кристалла BFAG-140 применяется в составе систем кварцевого контроля толщины покрытий. Датчик спроектирован так, что бы сделать замену кристаллов максимально простой операцией. В "BFAG-140" устанавливаются стандартные кварцевые кристаллы 0,55". Наличие в держателе системы водного охлаждения позволяет применять кварцевый контроль толщины при температуре до 300°С.
 |
|
Подробнее...
|
|
Предлагаем разработку приборов базирующихся на микропроцессорах.
Обеспечиваем полный цикл разработки:
- формирование технических требований, сбор данных об аналогах, подготовка технического задания
- разработка структурных схем, выбор ключевых компонентов
- создание принципиальных схем
- проектирование печатных плат
- проектирование конcтруктива и дизайн внешнего вида
- разработка программного обеспечения как встраиваемого так и для ПК
- подготовка инструкций пользователя и сопроводительной документации
Будем рады предложить Наш опыт и знания для решения Ваших задач. |
Назначение: Кристаллы кварцевые позволяют производить измерения для большого числа применений.  |
|
Подробнее...
|
|
|
